應用案例
交付日期:2023年10月20日
客戶單位:南京工業(yè)大學
交付產(chǎn)品:TLRH系列精密型基礎(chǔ)測試探針臺
• 真空卡盤直徑:4英寸
• 樣品臺位移精度:<3μm
• 探針座位移精度:<3μm
• 漏電流精度:<100fA
• 兼容多種光學顯微鏡
該探針臺系統(tǒng)可外引光路實現(xiàn)光電Mapping測試,是半導體材料或器件電學測試的理想選擇。
• 模塊化設(shè)計,可以搭配不同構(gòu)件完成不同測試;
• 最大可用于12寸以內(nèi)樣品測試;
• 探針臺整體位移精度高達3μm,樣品臺精密四維調(diào)節(jié);
• 兼容多種光學顯微鏡,可外引光路實現(xiàn)光電Mapping測試;
• 滿足1µm以上電極/PAD使用;
• 漏電精度可達10pA/100fA(屏蔽箱內(nèi));
• 探針座采用進口交叉滾珠導軌,線性移動,無回程差設(shè)計;
• 加寬探針放置架,可放置6個DC探針座/4個RF探針座;
• 配顯微鏡二維精密調(diào)節(jié)功能,且可選配多種行程及驅(qū)動方式。
多被用于科研院校搭建測試系統(tǒng),例如:材料電學測試系統(tǒng)、光電探測器光電響應系統(tǒng)、光電Mapping測試系統(tǒng)、憶阻器與神經(jīng)元系統(tǒng)等等。
公司可根據(jù)客戶實際需求定制配套的探針臺,以達到更好的測試效果和性價比,具體可各平臺咨詢客服。